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  • B.Sc., University of Wisconsin-Madison, Math and Physics (2023)

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  • Variational autoencoders for at-source data reduction and anomaly detection in high energy particle detectors MACHINE LEARNING-SCIENCE AND TECHNOLOGY Yue, A., Jia, H., Gonski, J. 2025; 6 (3)
  • Muon Collider Forum report JOURNAL OF INSTRUMENTATION Black, K. M., Jindariani, S., Li, D., Maltoni, F., Meade, P., Stratakis, D., Acosta, D., Agarwal, R., Agashe, K., Aime, C., Ally, D., Apresyan, A., Apyan, A., Asadi, P., Athanasakos, D., Bao, Y., Bartosik, N., Barzi, E., Bauerdick, L. T., Beacham, J., Belomestnykh, S., Berg, J. S., Berryhill, J., Bertolin, A., Bhat, P. C., Biagini, M. E., Bloom, K., Bose, T., Bross, A., Brost, E., Bruhwiler, N., Buonincontri, L., Buttazzo, D., Candelise, V., Canepa, A., Capdevilla, R., Carpenter, L., Casarsa, M., Celiberto, F., Cesarotti, C., Chachamis, G., Chacko, Z., Chang, P., Chekanov, S. V., Chen, T. Y., Chiesa, M., Cohen, T., Costa, M., Craig, N., Crivellin, A., Curatolo, C., Curtin, D., Da Molin, G., Dasu, S., de Gouvea, A., Denisov, D., Dermisek, R., Di Petrillo, K. F., Dorigo, T., Duarte, J. M., Elvira, V. D., Essig, R., Everaerts, P., Fan, J., Felcini, M., Fiore, G., Fiorina, D., Forslund, M., Franceschini, R., Garzelli, M. V., Gerber, C. E., Giambastiani, L., Giove, D., Guiducci, S., Han, T., Hermanek, K., Herwig, C., Hirschauer, J., Holmes, T. R., Homiller, S., Horyn, L. A., Ivanov, A., Jayatilaka, B., Jia, H., Jung, C. K., Kahn, Y., Kaplan, D. M., Kaur, M., Kawale, M., Koppenburg, P., Krintiras, G., Krizka, K., Kuchma, B., Lee, L., Li, L., Li, P., Li, Q., Li, W., Lipton, R., Liu, Z., Lomte, S., Lu, Q., Lucchesi, D., Luo, T., Lyu, K., Ma, Y., Machado, P. N., Madrid, C., Mahon, D. J., Mazzacane, A., McGinnis, N., McLean, C., Mele, B., Meloni, F., Middleton, S. C., Mishra, R. K., Mokhov, N., Montella, A., Morandin, M., Nagaitsev, S., Nardi, F., Neubauer, M. S., Neuffer, D. V., Newman, H., Ogaz, R., Ojalvo, I., Oksuzian, I., Orimoto, T., Ozek, B., Pachal, K., Griso, S., Panci, P., Papadimitriou, V., Pastrone, N., Pedro, K., Pellemoine, F., Perloff, A., Pinna, D., Piccinini, F., Pleier, M., Posen, S., Potamianos, K., Rappoccio, S., Reece, M., Reina, L., Hall, A., Riccardi, C., Ristori, L., Robens, T., Ruiz, R., Sala, P., Schulte, D., Sestini, L., Shiltsev, V., Snopok, P., Stark, G., Stupak, J., Su, S., Sundrum, R., Swiatlowski, M., Syphers, M. J., Taffard, A., Thompson, W., Torun, Y., Tully, C. G., Vai, I., Valente, M., van Rienen, U., van Weelderen, R., Velev, G., Venkatasubramanian, N., Vittorio, L., Vuosalo, C., Wang, X., Weber, H., Wu, R., Wu, Y., Wulzer, A., Xie, K., Xie, S., Yohay, R., Yonehara, K., Yu, F., Zlobin, A. V., Zuliani, D., Zurita, J. 2024; 19 (2)
  • Embedded FPGA developments in 130 nm and 28 nm CMOS for machine learning in particle detector readout Journal of Instrumentation Gonski, J., Gupta, A., Jia, H., Kim, H., Rota, L., Ruckman, L., Dragone, A., Herbst, R. 2024; 19