Further characterisation of Digital Pixel Test Structures implemented in a 65 nm CMOS
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION A-ACCELERATORS SPECTROMETERS DETECTORS AND ASSOCIATED EQUIPMENT
Rinella, G., Andronic, A., Apadulab, N., Antonellij, M., Aresti, M., Baccomi, R., Becht, P., Beole, S., Borri, M., Braach, J., Buckland, M., Buschmann, E., Camerini, P., Carnesecchi, F., Cecconi, L., Charbon, E., Contin, G., Dannheim, D., De Melo, J., Deng, W., Di Mauro, A., Hasenbichler, J., Hillemanns, H., Hong, G., Isakov, A., Jang, H., Junique, A., Kim, M., Kluge, A., Kotliarov, A., Krizek, F., Lautner, L., Limp, S., Mager, M., Marras, D., Martinengo, P., Masciocchi, S., Menzel, M., Munker, M., Piro, F., Rachevskij, A., Rebane, K., Reidt, F., Russo, R., Sanna, I., Sarritzu, V., Senyukov, S., Snoeys, W., Sonneveld, J., Suljic, M., Svihra, P., Tiltmann, N., Di Trapani, V., Usai, G., Van Beelen, J., Vassilev, M., Vernieri, C., Villani, A.
2026; 1083
Digital pixel test structures implemented in a 65 nm CMOS process
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION A-ACCELERATORS SPECTROMETERS DETECTORS AND ASSOCIATED EQUIPMENT
Rinella, G., Andronic, A., Antonelli, M., Aresti, M., Baccomi, R., Becht, P., Beole, S., Braach, J., Buckland, M., Buschmann, E., Camerini, P., Carnesecchi, F., Cecconi, L., Charbon, E., Contin, G., Dannheim, D., de Melo, J., Deng, W., di Mauro, A., Hasenbichler, J., Hillemanns, H., Hong, G., Isakov, A., Junique, A., Kluge, A., Kotliarov, A., Krizek, F., Lautner, L., Mager, M., Marras, D., Martinengo, P., Masciocchi, S., Menzel, M., Munker, M., Piro, F., Rachevski, A., Rebane, K., Reidt, F., Russo, R., Sanna, I., Sarritzu, V., Senyukov, S., Snoeys, W., Sonneveld, J., Suljic, M., Svihra, P., Tiltmann, N., Usai, G., Van Beelen, J., Vassilev, M., Vernieri, C., Villani, A.
2023; 1056
